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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:HBM靜電檢測、MM放電模型、CDM靜電放電

產(chǎn)品型號:

更新時(shí)間:2025-11-21

產(chǎn)品簡介:

SCS770715靜電事件探測儀EM EYE
英文名稱:EM Eye ESD Event Detection Meter
探測靜電放電次數(shù)和放電電壓 ,HBM靜電檢測、MM放電模型、CDM靜電放電

產(chǎn)品特性Product characteristics

“精"——上海市先JIN企業(yè)!

“專"——專注工業(yè)測試十六年!

“特"——德國萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!

“新"——注冊資本實(shí)繳壹仟萬元!實(shí)繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風(fēng)險(xiǎn)能力強(qiáng)!


SCS770715靜電事件探測儀EM EYE

英文名稱:EM Eye ESD Event Detection Meter

探測靜電放電次數(shù)和放電電壓 ,HBM靜電檢測、MM放電模型、CDM靜電放電

產(chǎn)品型號:770715

制造商:Desco Industries Inc(SCS 品牌)


770715:包含以下物品

770715探測儀(含傳感器模塊和CTS001天線)

CTC113-6FT:遠(yuǎn)端天線,常溫型,纜線長度6英尺

SD內(nèi)存卡

SD卡托

電源適配器/電池充電器

手提箱


選配

CTC115-6FT:遠(yuǎn)端天線,高溫型,纜線長度6英尺

探測靜電放電事件的次數(shù)和放電電壓值

具有分辨信號的能力,區(qū)分EMI和ESD信號,剔除非ESD相關(guān)事件

可設(shè)置探測距離1.3~38.1cm

可選擇CDM、HBM、MM放電模型

彩色觸摸屏操作方便

數(shù)據(jù)保存在SD卡,可以轉(zhuǎn)換為表單格式(EXCEL)



1. 產(chǎn)品描述

SCS770715靜電事件探測儀EM EYE是一款靜電事件探測儀,可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器根據(jù)靜電放電(ESD)信號的特征波形,區(qū)分靜電放電和空間其他電磁信號,可剔除背景噪音或其他干擾信號。用戶可以選擇HBM靜電檢測、MM放電模型、CDM靜電放電,儀器根據(jù)放電模型、探測距離和信號強(qiáng)度計(jì)算出各個(gè)模型的放電電壓。


2. 部件功能及安裝

CTS001 為定向天線,只探測天線正前方的信號

CTC113-6FT 為全向天線,可以探測到 360 度任何方向的信號,需要探測狹窄空間,可采用該天線

如果需要探測高溫區(qū)域的靜電放電事件,選購 CTC115-6FT 高溫天線

儀器默認(rèn)設(shè)置采用 CTS001 定向天線,如果采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 天線,需要在儀器設(shè)置中相應(yīng)選擇

正常情況下無需拔插探測模塊,只有儀器維修或升級更換探測模塊時(shí)才需要拔插

如果發(fā)生死機(jī)或其他故障,重新開/關(guān)機(jī)一次,絕大多數(shù)故障可以消除定位插頭


3. 儀器操作

開機(jī):開/關(guān)機(jī)鍵撥到左邊

關(guān)機(jī):開/關(guān)機(jī)鍵撥到右邊

1 10 個(gè)弧形圓點(diǎn):示意放電強(qiáng)度,點(diǎn)擊可設(shè)置報(bào)警閾值

2 閃電/三角符號:點(diǎn)擊可切換符號

閃電符號,只顯示靜電放電事件(ESD)

三角符號,顯示所有放電事件(包含 ESD 和 EMI)

3 探測距離:天線到被測試物/測試點(diǎn)的距離,點(diǎn)擊可設(shè)置距離

4 聲音符號:點(diǎn)擊該符號可選擇報(bào)警聲類型及音量。鈴鐺符號為“叮鈴"聲,只有一個(gè)音量,不能調(diào)節(jié)。

點(diǎn)擊切換成喇叭符號,這時(shí)的儀器發(fā)出類似收音機(jī)調(diào)頻聲,聲音根據(jù)信號強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點(diǎn)擊可以調(diào)節(jié)音量大小,在喇叭上出現(xiàn)×,表示靜音。

5 C 鍵:點(diǎn)擊該鍵清零屏幕顯示的讀數(shù)

6 Menu/F 鍵:點(diǎn)擊進(jìn)入儀器硬件設(shè)置界面

7 Hold 鍵:點(diǎn)擊后鎖定讀數(shù)(讀數(shù)上方顯示 Hold);繼續(xù)點(diǎn)擊進(jìn)入最大值模式(讀數(shù)上方顯示 Max),在

該模式下,屏幕顯示探測到的最大讀數(shù);再次點(diǎn)擊,退回到正常模式

8 時(shí)間:顯示當(dāng)前時(shí)間

9 電池符號:示意電量狀況(全黑 100%電量,半黑 50%電量,全白表示<1 小時(shí)電量,×表示電量耗盡,藍(lán)色表示正在充電)。點(diǎn)擊電池符號可設(shè)置日期和時(shí)間

10 SD 卡符號:點(diǎn)擊該符號,進(jìn)入查看界面,可以查看測試記錄

11 放電次數(shù):該次數(shù)是累計(jì)次數(shù),點(diǎn)擊 C 鍵可清零

12 放電模型:點(diǎn)擊可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input(原始信號)

13 放電電壓讀數(shù):該儀器測試速度是皮秒級別的,顯示速度不可能這么快,所以屏幕以每秒 1 個(gè)讀數(shù)的速度來顯示,顯示的這個(gè)讀數(shù)是該秒內(nèi)所測到的所有值中最大的那個(gè)讀數(shù)(導(dǎo)出數(shù)據(jù)可以查看其他讀數(shù))


3.1. 開機(jī)界面

儀器開機(jī)先顯示儀器固件號,如下所示:

稍后,進(jìn)入主界面。如果未插入 SD 卡或不能識(shí)別 SD 卡,出現(xiàn)以下提示:

無 SD 卡也可以正常使用該儀器,但測試數(shù)據(jù)不會(huì)被保存。點(diǎn)擊棕色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入主界面。

注意!拔插 SD 卡時(shí),儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。


3.2. 儀器硬件設(shè)置

點(diǎn)擊 Menu/F 鍵進(jìn)入硬件設(shè)置界面,顯示如下:

第一行顯示儀器主板編號

第二行為屏幕亮度,點(diǎn)擊圓盤的?/?增加或降低亮度,默認(rèn) 50%(可設(shè)置 10%~100%的亮度)

點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第三行“Dim time"項(xiàng),設(shè)置自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間,默認(rèn) 5 分鐘(可設(shè)置 1~9 分鐘),點(diǎn)擊?/?

改變時(shí)間,一直點(diǎn)擊?,選擇 disabled,表示不啟用自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第四行“Local antenna"項(xiàng),點(diǎn)擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna



3.3. 設(shè)置日期和時(shí)間

點(diǎn)擊電池符號進(jìn)入日期和時(shí)間設(shè)置界面,顯示如下:

第一行設(shè)置時(shí)間,點(diǎn)擊圓盤▲/▼改變數(shù)值,點(diǎn)擊?/?移動(dòng)光標(biāo)向前或向后

第二行設(shè)置日期,格式為:月/日/年(02/10/25 表示 2025 年 2 月 10 日)

第三行選擇 12/24 小時(shí)制,點(diǎn)擊▲/▼選擇 12H 或 24H

設(shè)置完成后,點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面


4. 測試靜電放電(ESD)事件

4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型

儀器天線接收到放電產(chǎn)生的電磁波信號,采用專有算法,根據(jù)探測距離、信號強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。

探測距離:

天線距離被測試物/測試點(diǎn)的距離,設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸(1.3~38.1cm)

注意:實(shí)際測試時(shí),天線距離被測試物/測試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。

放電模型:

CDM:器件本身帶有靜電,接觸到其他導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電

MM:帶靜電的設(shè)備或工具接觸到器件,發(fā)生靜電放電

HBM:帶靜電的人體接觸到器件,發(fā)生靜電放電

Raw Input:天線所獲得的原始信號,該讀數(shù)就是用于計(jì)算放電電壓的,該模式用于儀器校準(zhǔn)

備注:在探測時(shí),根據(jù)實(shí)際場景,選擇其中一個(gè)放電模型,即以此模型來計(jì)算放電電壓。實(shí)際工況可能是幾種模型的混合放電,或者無法判斷是那種放電模型時(shí),建議選擇 CDM 模型,因?yàn)?CDM 放電造成的損壞最大。

Time-Date Setup

Time: 14:06

Date: 02/10/25

Mode: 24 H

設(shè)置日期和時(shí)間

點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框,進(jìn)入設(shè)置界面,屏幕顯示如下:

點(diǎn)擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離,選擇范圍 0.5~15.0 英寸(1.3cm~38.1cm),0.5 英寸以下,每點(diǎn)擊 1 次遞增 0.5 英寸;10 英寸以上,每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。

點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置放電模型,可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input

設(shè)置完成后,點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面


4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置

點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn),進(jìn)入設(shè)置界面。(備注:儀器 SD 卡只記錄超過閾值的靜電放電事件)

點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置報(bào)警閾值,范圍 000~990V,0~10V 按 1V 增幅設(shè)置,10~990V 按 10V 增幅設(shè)置

提示:一旦設(shè)置了報(bào)警閾值,低于閾值的讀數(shù)圓點(diǎn)顯示綠色,只有高于閾值的讀數(shù)顯示紅色圓點(diǎn)。儀器 SD 卡僅保存高于閾值的讀數(shù)。選擇 000,所有讀數(shù)都高于閾值,所有讀數(shù)都保存在 SD 卡上

如果選擇了“Raw Input"測試模式,可以選擇 1~1500mV

設(shè)置完成后,點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

設(shè)置距離和模型

設(shè)置報(bào)警閾值

按以上設(shè)置完成后,即可開始測試。測試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號,表示開啟了信號屏蔽功能,儀器剔除了非ESD 放電信號,只顯示靜電放電信號。點(diǎn)擊該符號切換到全信號模式,這時(shí)出現(xiàn)三角形符號,表示儀器顯示所有探測到的信號,包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號。

測試時(shí),電壓讀數(shù)為實(shí)時(shí)的放電電壓值(每秒中最大的值),數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù),最高可以累計(jì)32767 次放電次數(shù),點(diǎn)擊 C 鍵可以清零放電次數(shù),重新累計(jì)。


4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評估流程

備注:

首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體,例如金屬-金屬接觸,如果沒有,通常不會(huì)有靜電放電風(fēng)險(xiǎn),無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評估。

空載測試:在制程中不要放入靜電敏感器件,記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象

放入靜電敏感器件后,如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象,表示探測到的是干擾信號/背景噪音,而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電,評估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

如果探測到更多的放電現(xiàn)象,根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評估風(fēng)險(xiǎn),如果放電電壓值超過器件所列明的閥值,采取措施消除危險(xiǎn),例如采取接地、離子中和等方式

采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后,再次進(jìn)行評估



5. 數(shù)據(jù)查看和處理

5.1. 安裝 SD 卡

1)把 SD 卡插入儀器,注意方向,白色面朝上,有金屬觸腳的在里面。注意!一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。

2)插好卡后,儀器開機(jī),儀器會(huì)對新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面,在屏幕右中可以看見 SD卡圖標(biāo),表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉,表示該卡不兼容。

3)超過報(bào)警閾值的測試記錄會(huì)保存在 SD 卡上。

在主界面,點(diǎn)擊 SD 卡符號,進(jìn)入查看界面。點(diǎn)擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動(dòng)查看。


5.2. 數(shù)據(jù)處理

向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件,解壓后雙擊 setup.exe 安裝,按指示進(jìn)行安裝,最后點(diǎn)擊 Close完成。

把 SD 卡從儀器中取出,放入配套的卡托(白色面向下插入 microSD 卡槽),然后把卡托插入電腦 USB 口

1) 打開安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件(在桌面有快捷圖標(biāo))

2) 點(diǎn)擊文件夾符號,選擇 SD 卡上的文件 ESD3M0003.esd

3) 打開后可以看見所有的測試記錄,每條記錄表示一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的測試記錄。例如下圖第一行(00001 條),

表示 2025 年 2 月 25 日 10 點(diǎn) 09 分 18 秒開始探測到 45 個(gè) ESD 事件發(fā)生(報(bào)警閾值為 810V)

每個(gè)記錄編號是指在該時(shí)間點(diǎn)開始探測到的所有 ESD 事件,以上 00001 為例,是 10 點(diǎn) 09 分 18秒開始探測到總共 45 個(gè) ESD 事件(僅記錄大于閾值 810V 的 ESD 事件)

保存每條測試記錄后,用 EXCEL 打開可以看到該條記錄內(nèi)的所有 ESD 事件

點(diǎn)擊任一條測試記錄,然后點(diǎn)擊 File > Save 保存,直接保存.CSV 文件格式即可點(diǎn)擊這里選擇這個(gè)

記錄編號 報(bào)警次數(shù) 日期 時(shí)間 測試模型 測試距離 天線類型 閾值

4) 用 EXCEL 打開保存的文件可以顯示詳細(xì)的測試數(shù)據(jù)(以 00001 條記錄為例)

A 欄(Number):ESD 事件計(jì)數(shù)(總共 45 個(gè) ESD 事件)

B 欄(Time):ESD 事件發(fā)生的時(shí)間

C 欄(Value V):ESD 事件放電電壓(單位 V)

備注:如果 SD 卡滿,把 SD 卡插入電腦,然后清空該卡即可。重新把空卡插入儀器后,儀器會(huì)自動(dòng)初始化。

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